一种光谱解析校正的积分式光辐射度测量系统和方法

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专利状态

一种光谱解析校正的积分式光辐射度测量系统和方法

有效

专利申请进度

申请

2005-07-26

申请公布

2006-04-12

授权

2008-08-27

预估到期

2025-07-26

专利基础信息

申请号	CN200510050854.1	申请日	2005-07-26
申请公布号	CN1758036A	申请公布日	2006-04-12
授权公布号	CN100414272C	授权公告日	2008-08-27
分类号	G01J1/16;G01J3/28
分类	测量；测试;
申请人名称	杭州远方光电信息股份有限公司
申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨康路669号

专利法律状态

2010-12-29

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

状态信息

专利权人的姓名或者名称、地址的变更；IPC(主分类):G01J1/16；变更事项:专利权人；变更前:杭州远方光电信息有限公司；变更后:杭州远方光电信息股份有限公司；变更事项:地址；变更前:310053 浙江省杭州市滨江区滨康路669号；变更后:310053 浙江省杭州市滨江区滨康路669号
2010-07-21

专利申请权、专利权的转移

状态信息

专利权的转移；IPC(主分类):G01J1/16；变更事项:专利权人；变更前权利人:潘建根；变更后权利人:杭州远方光电信息有限公司；变更事项:地址；变更前权利人:310053 浙江省杭州市滨江高新区南新路9号；变更后权利人:310053 浙江省杭州市滨江区滨康路669号；登记生效日:20100617
2008-08-27

发明专利权授予

状态信息

授权
2006-06-07

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效
2006-04-12

发明专利申请公布

状态信息

公布

摘要

一种光谱解析校正的积分式光辐射度测量系统和方法，属于光和辐射测量技术领域。其特征在于积分球上分别设置探头安装孔和光纤耦合孔，通过探头、光纤分别与光谱分析仪相连，光谱分析仪与计算机连接。其测量方法，包括以下步骤：所采用的探头用已知相对光谱功率分布P(λ)_A的A光源进行了定标，测量待测光源的光度值；光谱分析仪所测得的光源光谱数据输入计算机中，按公式计算出光谱解析校正系数K，乘以探头所测得的待测光源的光度值，即得到待测光源的精确光度值。上述的测量系统和方法，可以在探头的相对光谱灵敏度为非V(λ)曲线的情况下，实现测量系统中宽线性范围、高精度的光度测量。

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