性能测试方法、装置、电子设备和存储介质

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专利状态

性能测试方法、装置、电子设备和存储介质

有效

专利申请进度

申请

2018-08-31

申请公布

2019-02-15

授权

2021-01-05

预估到期

2038-08-31

专利基础信息

申请号	CN201811014126.9	申请日	2018-08-31
申请公布号	CN109343092A	申请公布日	2019-02-15
授权公布号	CN109343092B	授权公告日	2021-01-05
分类号	G01S19/40
分类	测量；测试;
申请人名称	深圳市广和通无线股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区南海大道1057号科技大厦二期A栋501A号

专利法律状态

2021-01-05

授权

状态信息

授权
2019-03-12

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效
2019-02-15

公布

状态信息

公布

摘要

本申请涉及一种性能测试方法、系统、计算机设备和存储介质。所述方法包括：通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位；获取电子设备在定位过程中生成的测试性能参数，测试性能参数用于表示电子设备接收卫星信号的能力，卫星信号是由卫星系统在定位过程中发送的；当测试性能参数在参考范围内时，对卫星系统的性能测试通过。上述性能测试方法、装置、电子设备和存储介质，能够方便快捷地对卫星系统的定位性能进行测试，节约了大量的设备资源，大幅提高了卫星系统性能测试的效率。

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