一种片上存储器的调试装置及方法

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专利状态

一种片上存储器的调试装置及方法

有效

专利申请进度

申请

2017-07-14

申请公布

2019-01-22

授权

2021-09-24

预估到期

2037-07-14

专利基础信息

申请号	CN201710575820.7	申请日	2017-07-14
申请公布号	CN109254883A	申请公布日	2019-01-22
授权公布号	CN109254883B	授权公告日	2021-09-24
分类号	G06F11/22
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	深圳市中兴微电子技术有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区西丽街道留仙大道中兴工业园

专利法律状态

2021-09-24

授权

状态信息

授权
2019-02-22

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC（主分类）:G06F 11/22
2019-01-22

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种片上存储器的调试装置和方法，包括输入控制单元、寄存器单元、控制单元和译码单元，其中，输入控制单元用于接收并解析外部输入的调试控制信息，将所述解析后的调试控制信息存储至寄存器单元；控制单元用于从所述寄存器单元获取所述解析后的调试控制信息，生成相应的调试读写信号并输出至译码单元；译码单元用于接收来自控制单元的调试读写信号以及外部输入的读写信号，并进行相应的读写操作。本发明根据调试控制信息生成调试读写信号，并根据调试读写信号和外部输入的读写信号进行相应的读写操作，实现了对片上存储器灵活地访问，满足了应用对数据分析以及根据分析结果校正数据的需求，更好地支持了系统的灵活调试。

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