一种高度测量方法、装置及监控系统

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专利状态

一种高度测量方法、装置及监控系统

有效

专利申请进度

申请

2009-12-02

申请公布

2010-11-03

授权

2015-11-25

预估到期

2029-12-02

专利基础信息

申请号	CN200910238380.1	申请日	2009-12-02
申请公布号	CN101876535A	申请公布日	2010-11-03
授权公布号	CN101876535B	授权公告日	2015-11-25
分类号	G01B11/03;H04N7/18
分类	测量；测试;
申请人名称	北京中星微电子有限公司
申请人地址	北京市海淀区学院路35号世宁大厦16层

专利法律状态

2018-04-10

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

状态信息

专利权人的姓名或者名称、地址的变更；IPC(主分类):G01B11/03；变更事项:专利权人；变更前:中星技术有限公司；变更后:中星技术股份有限公司；变更事项:地址；变更前:100083 北京市海淀区学院路35号世宁大厦16层；变更后:100083 北京市海淀区学院路35号世宁大厦16层
2018-01-09

专利申请权、专利权的转移

状态信息

专利权的转移；IPC(主分类):G01B11/03；登记生效日:20171221；变更事项:专利权人；变更前:北京中星微电子有限公司；变更后:中星技术有限公司；变更事项:地址；变更前:100083 北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层；变更后:100083 北京市海淀区学院路35号世宁大厦16层
2015-11-25

授权

状态信息

授权
2012-10-03

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01B11/03；申请日:20091202
2010-11-03

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供一种高度测量方法、装置及监控系统，该方法包括获取图像拍摄装置拍摄的第一图像，所述第一图像中包括出现在所述图像拍摄装置的摄像区域内的待测目标；所述图像拍摄装置的拍摄参数固定；确定所述待测目标的最高点和最低点在所述第一图像内的坐标；根据获取的所述待测目标的最高点和最低点在所述第一图像内的坐标以及一图像参数计算所述待测目标的实际高度。本发明避开了配准问题，实现简单，运算效率高，能进行实时分析处理，而且只需要一个图像拍摄装置，因此降低了基于图像的高度测量的实现成本。

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