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专利状态
一种退卷积的超高光谱分辨率增强方法
有效
专利申请进度
申请
2018-11-15
申请公布
2019-01-29
授权
2020-07-03
预估到期
2038-11-15
专利基础信息
申请号 CN201811357344.2 申请日 2018-11-15
申请公布号 CN109282898A 申请公布日 2019-01-29
授权公布号 CN109282898B 授权公告日 2020-07-03
分类号 G01J3/44;G01J3/02
分类 测量;测试;
申请人名称 中电科思仪科技股份有限公司
申请人地址 山东省青岛市黄岛区香江路98号
专利法律状态
  • 2021-03-30
    专利权人的姓名或者名称、地址的变更
    状态信息
    专利权人的姓名或者名称、地址的变更;IPC(主分类):G01J3/44;专利号:ZL2018113573442;变更事项:专利权人;变更前:中电科仪器仪表有限公司;变更后:中电科思仪科技股份有限公司;变更事项:地址;变更前:266555 山东省青岛市黄岛区香江路98号;变更后:266555 山东省青岛市黄岛区香江路98号
  • 2020-07-03
    授权
    状态信息
    授权
  • 2019-03-01
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G01J3/44;专利申请号:2018113573442;申请日:20181115
  • 2019-01-29
    发明专利申请公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种退卷积的超高光谱分辨率增强方法,具体涉及光谱分析技术领域。该方法首先建立基于受激布里渊效应的光谱分析系统中单模保偏光纤产生的受激布里渊增益谱数学模型,然后在光谱分析系统的每一光谱采样点,基于受激布里渊增益谱数学模型,对测量得到的超高光谱进行退卷积,最后采用帕德逼近光谱拟合方法消除退卷积得到的超高光谱中可能存在的光谱缺陷,从而实现超高光谱分辨率的增强。本发明采用的光谱分辨率增强方法,极大的提高基于受激布里渊效应的光谱分析系统的光谱分辨率能力,突破受激布里渊增益谱宽对于光谱分析系统的光谱分辨率限制,将光谱分辨率由受限的几十MHz提高到1MHz以下。