微波半导体器件多参数测试仪

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专利状态

微波半导体器件多参数测试仪

有效

专利申请进度

申请

2019-07-26

授权

2020-01-17

预估到期

2029-07-26

专利基础信息

申请号	CN201930402569.4	申请日	2019-07-26
授权公布号	CN305559126S	授权公告日	2020-01-17
分类号	10-04(12)
分类
申请人名称	中电科思仪科技股份有限公司
申请人地址	山东省青岛市黄岛区香江路98号

专利法律状态

2021-03-26

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

状态信息

专利权人的姓名或者名称、地址的变更；主分类号:10-04；变更事项:专利权人；变更前:中电科仪器仪表有限公司；变更后:中电科思仪科技股份有限公司；变更事项:地址；变更前:266555 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号；变更后:266555 山东省青岛市黄岛区香江路98号
2020-01-17

授权

状态信息

授权

摘要

1.本外观设计产品的名称：微波半导体器件多参数测试仪。2.本外观设计产品的用途：微波半导体器件多参数测试仪，主要用于对典型移动通信芯片和微波半导体器件/芯片等的测试应用开发。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。

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