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专利状态
光斑增强处理方法、装置及激光测距仪
有效
专利申请进度
申请
2016-09-23
申请公布
2016-12-21
授权
2018-12-28
预估到期
2036-09-23
专利基础信息
申请号 CN201610848440.1 申请日 2016-09-23
申请公布号 CN106249220A 申请公布日 2016-12-21
授权公布号 CN106249220B 授权公告日 2018-12-28
分类号 G01S7/48;G01S17/08
分类 测量;测试;
申请人名称 深圳市迈测科技股份有限公司
申请人地址 广东省深圳市南山区桃源街道留仙大道1213号众冠红花岭工业南区2区9栋6楼
专利法律状态
  • 2018-12-28
    授权
    状态信息
    授权
  • 2017-01-25
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效IPC(主分类):G01S 7/48申请日:20160923
  • 2016-12-21
    公布
    状态信息
    公开
摘要
本发明提供一种光斑增强处理方法,应用于激光测距,所述方法包括:获取激光光斑图像的灰度值极大值点p1,p2,…,pn;预设光斑半径r,将光斑半径r与灰度值极大值点p1,p2,…,pn两两之间的距离进行比较,获取光斑中心;对以光斑中心为圆心、r为半径的区域进行图像增强处理。上述方法通过先获取光斑的灰度值极大值点,再确定其中的一点为光斑中心,并对相应区域进行增强处理,能够对激光产生光斑进行增强显示,使得用户能够清楚地对光斑进行观察,并且不需要借助辅助设备,提供了很大的方便。本发明还提供了一种应用上述光斑增强处理方法的装置及激光测距仪。