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专利状态

一种光学信息检测系统

有效

专利申请进度

申请

2020-07-20

申请公布

2020-11-13

授权

2023-12-12

预估到期

2040-07-20

专利基础信息

申请号	CN202010697767.X	申请日	2020-07-20
申请公布号	CN111929695A	申请公布日	2020-11-13
授权公布号	CN111929695B	授权公告日	2023-12-12
分类号	G01S17/08;G06T7/73
分类	测量；测试;
申请人名称	奥比中光科技集团股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼

专利法律状态

2023-12-12

授权

状态信息

授权
2020-11-13

公布

状态信息

公布

摘要

本申请适用于光学技术领域，提供了一种光学信息检测系统，包括投影组件、投影屏、第一成像模组、光学信息检测装置；投影组件用于将投影图案投射至投影屏；第一成像模组用于采集投射至投影屏的第一图像，光学信息检测装置，用于对第一图像进行特征提取得到第一特征信息；获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，计算第一特征信息和第二特征信息之间的第一映射关系；将第一图形信息映射至目标全场投影图案，得到目标全场投影图案对应的第二图形信息；根据第二图形信息，计算目标光学信息。采用上述系统对光学信息进行检测，在投影组件投影的散斑图案中，无论零级散斑图案是否具有全局唯一性，都可以准确的对光学信息进行检测。

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