一种薄板工件相控阵超声导波成像检测系统及其检测方法

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专利状态

一种薄板工件相控阵超声导波成像检测系统及其检测方法

有效

专利申请进度

申请

2015-01-13

申请公布

2015-04-22

授权

2017-09-15

预估到期

2035-01-13

专利基础信息

申请号	CN201510015585.9	申请日	2015-01-13
申请公布号	CN104535657A	申请公布日	2015-04-22
授权公布号	CN104535657B	授权公告日	2017-09-15
分类号	G01N29/06
分类	测量；测试;
申请人名称	广东汕头超声电子股份有限公司
申请人地址	广东省汕头市龙江路12号

专利法律状态

2017-09-15

授权

状态信息

授权
2015-05-20

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01N29/06；申请日:20150113
2015-04-22

公布

状态信息

公布

摘要

本发明涉及一种薄板工件相控阵超声导波成像检测系统及其检测方法，包括相控阵超声检测仪、相控阵超声导波探头和位置编码器，相控阵超声导波探头包括相控阵超声探头和超声导波楔块；超声导波楔块的竖直侧面上开设有斜向矩形槽，相控阵超声探头包括探头本体和阵列晶片，相控阵超声探头安装在超声导波楔块的斜面上，相控阵超声探头与超声导波楔块之间通过耦合剂紧密结合，阵列晶片沿斜向矩形槽的深度方向排列在斜面上。由于采用超声导波楔块以及阵列晶片进行大面积检测，提高了检测效率，检测区域边缘重叠覆盖，检测结果更加准确；通过开设斜向矩形槽，产生相配合的耦合监控信号和检测信号，对薄板工件的缺陷进行判断，进一步提高检测结果的准确性。

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