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专利状态
一种电容及大功率中波射频功率取样装置
有效
专利申请进度
申请
2022-03-25
授权
2022-07-29
预估到期
2032-03-25
专利基础信息
申请号 CN202220682470.0 申请日 2022-03-25
授权公布号 CN217086388U 授权公告日 2022-07-29
分类号 H01G4/38;H01G4/228;H01G4/30;H01G2/06;H05K1/18
分类 基本电气元件;
申请人名称 北京北广科技股份有限公司
申请人地址 北京市顺义区天竺空港工业区天柱路A区26号
专利法律状态
  • 2022-07-29
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型公开了一种电容及大功率中波射频功率取样装置,电容的第一引出脚与第二引出脚分别位于电容器的两端,第一引出脚结构与第二引出脚结构相互匹配的套接结构,用于第一电容的第二引出脚与第二电容的第一引出脚之间连接时,第一电容的第二引出脚能够与第二电容的第一引出脚进行套接连接。采用所述电容的大功率中波射频功率取样装置,电路板上固定有至少一个电容,固定电容的第一引出脚固定在电路板上,其第二引出脚与层叠电容的第一引出脚套接,层叠电容设置在固定电容的上方,层叠电容的第二引出脚通过导电板连接。套接方式的电容连接方式,电容和印制板之间的连接更加稳固,增加电容之间的强度,减少了损坏几率,降低成本。