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专利状态
一种传感器灰度校正方法、装置及异物检测机
有效
专利申请进度
申请
2019-10-27
申请公布
2021-04-27
授权
2022-08-09
预估到期
2039-10-27
专利基础信息
申请号 CN201911027080.9 申请日 2019-10-27
申请公布号 CN112710684A 申请公布日 2021-04-27
授权公布号 CN112710684B 授权公告日 2022-08-09
分类号 G01N23/18;G01N23/04
分类 测量;测试;
申请人名称 合肥美亚光电技术股份有限公司
申请人地址 安徽省合肥市高新技术产业开发区望江西路668号
专利法律状态
  • 2022-08-09
    授权
    状态信息
    授权
  • 2021-04-27
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明提供的一种传感器灰度校正方法、装置及异物检测机,其中,方法包括:获取待校正传感器的当前温度;获取待校正传感器输出的待校正的第一灰度值;根据当前温度和预存的第一映射关系,确定目标暗电平灰度值;根据目标暗电平灰度值对第一灰度值进行暗电平校正。在X光成像系统的使用过程中,根据传感器工作温度的变化,选择相应温度下的传感器的暗电平灰度值,使得传感器的暗电平校正过程更加准确,从而可以减少甚至消除各传感器拼接形成的图像出现条纹的现象。