用于检测电表外部一次计量CT二次侧回路状态的装置及方法

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专利状态

用于检测电表外部一次计量CT二次侧回路状态的装置及方法

有效

专利申请进度

申请

2016-11-07

申请公布

2017-02-22

授权

2019-06-07

预估到期

2036-11-07

专利基础信息

申请号	CN201610975461.X	申请日	2016-11-07
申请公布号	CN106443304A	申请公布日	2017-02-22
授权公布号	CN106443304B	授权公告日	2019-06-07
分类号	G01R31/02
分类	测量；测试;
申请人名称	北京博纳电气股份有限公司
申请人地址	北京市昌平区回龙观镇二拨子村北1号楼2层

专利法律状态

2024-02-27

专利申请权、专利权的转移

状态信息

专利权的转移；IPC(主分类):G01R31/02；登记生效日:20240206；变更事项:专利权人；变更前:北京正祥瑞科技有限责任公司；变更后:北京博纳电气股份有限公司；变更事项:国家或地区；变更前:中国；变更后:中国；变更事项:地址；变更前:102200 北京市昌平区回龙观镇二拨子村北1号楼1至4层全部等3套1号楼4层405室；变更后:102201 北京市昌平区回龙观镇二拨子村北1号楼2层
2023-12-08

专利申请权、专利权的转移

状态信息

专利权的转移；IPC(主分类):G01R31/02；登记生效日:20231123；变更事项:专利权人；变更前:北京博纳电气股份有限公司；变更后:北京正祥瑞科技有限责任公司；变更事项:地址；变更前:102208 北京市昌平区科技园区中兴路10号1号楼A201室；变更后:102200 北京市昌平区回龙观镇二拨子村北1号楼1至4层全部等3套1号楼4层405室
2019-06-07

授权

状态信息

授权
2017-03-22

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R31/02；申请日:20161107
2017-02-22

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种用于检测电表外部一次计量CT二次侧回路状态的装置及方法，包括测试CT、具有谐振电容阵列的自激振荡电路、隔离滤波电路和MCU。测试CT二次侧通过具有谐振电容阵列的自激振荡电路和隔离滤波电路与MCU连接，隔离滤波电路包含带通滤波器和信号隔离电路。通过在电表外接测试CT，利用具有谐振电容阵列的自激振荡电路以及MCU现场自学习功能，实现了电表外部不同类型一次计量CT二次侧回路开路、短路、部分短路以及正常四种状态下实时、高精度、高准确度检测，提高了防窃电水平，扩展了检测装置的适用性，可靠性高、成本低、检测方便，适合大批量生产和使用。

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