用于电表外部被测CT二次侧回路状态的检测装置及方法

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专利状态

用于电表外部被测CT二次侧回路状态的检测装置及方法

有效

专利申请进度

申请

2016-11-07

申请公布

2017-08-11

授权

2019-06-07

预估到期

2036-11-07

专利基础信息

申请号	CN201610976017.X	申请日	2016-11-07
申请公布号	CN107037303A	申请公布日	2017-08-11
授权公布号	CN107037303B	授权公告日	2019-06-07
分类号	G01R31/02;G01R11/24
分类	测量；测试;
申请人名称	北京博纳电气股份有限公司
申请人地址	北京市昌平区回龙观镇二拨子村北1号楼2层

专利法律状态

2024-02-20

专利申请权、专利权的转移

状态信息

专利权的转移；IPC(主分类):G01R31/02；登记生效日:20240130；变更事项:专利权人；变更前:北京正祥瑞科技有限责任公司；变更后:北京博纳电气股份有限公司；变更事项:国家或地区；变更前:中国；变更后:中国；变更事项:地址；变更前:102200 北京市昌平区回龙观镇二拨子村北1号楼1至4层全部等3套1号楼4层405室；变更后:102201 北京市昌平区回龙观镇二拨子村北1号楼2层
2023-12-05

专利申请权、专利权的转移

状态信息

专利权的转移；IPC(主分类):G01R31/02；登记生效日:20231120；变更事项:专利权人；变更前:北京博纳电气股份有限公司；变更后:北京正祥瑞科技有限责任公司；变更事项:地址；变更前:102208 北京市昌平区科技园区中兴路10号1号楼A201室；变更后:102200 北京市昌平区回龙观镇二拨子村北1号楼1至4层全部等3套1号楼4层405室
2019-06-07

授权

状态信息

授权
2017-09-05

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R31/02；申请日:20161107
2017-08-11

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种用于电表外部被测CT二次侧回路状态的检测装置及检测方法，包括测试CT、阻抗匹配电路、驱动电路、保护电路、隔离滤波电路和MCU，测试CT一次侧与阻抗匹配电路并联，MCU通过驱动电路与测试CT二次侧的输入端连接，测试CT二次侧的输出端通过保护电路和隔离滤波电路与MCU连接。通过在电表外接测试CT，利用MCU选择合适的高频扫频信号生成正常连接状态的理论判决阈值，当状态改变时，通过传回信号均方幅值与各理论判决阈值之间的关系判断改变后的连接状态，实现了不同类型被测CT二次侧回路实时、高精度、高准确度的检测，提高了防窃电水平。

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