一种芯片验证关键信号覆盖率统计分析方法和存储介质

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专利状态

一种芯片验证关键信号覆盖率统计分析方法和存储介质

有效

专利申请进度

申请

2018-08-08

申请公布

2019-01-18

授权

2021-12-10

预估到期

2038-08-08

专利基础信息

申请号	CN201810895219.0	申请日	2018-08-08
申请公布号	CN109240872A	申请公布日	2019-01-18
授权公布号	CN109240872B	授权公告日	2021-12-10
分类号	G06F11/263
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	瑞芯微电子股份有限公司
申请人地址	福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼

专利法律状态

2021-12-10

授权

状态信息

授权
2021-11-26

著录事项变更

状态信息

著录事项变更；IPC(主分类):G06F 11/263；专利申请号:2018108952190；变更事项:申请人；变更前:福州瑞芯微电子股份有限公司；变更后:瑞芯微电子股份有限公司；变更事项:地址；变更前:350003 福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼；变更后:350003 福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼
2019-02-19

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G06F 11/263；专利申请号:2018108952190；申请日:20180808
2019-01-18

发明专利申请公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供了一种芯片验证关键信号覆盖率统计分析方法和存储介质，所述方法包括以下步骤：预先设置关键信号信息，并以第一预设格式文件进行存储；所述关键信号信息包括至少一个关键信号名称、关键信号位宽和关键信号路径；将第一预设格式文件转换为第二预设格式文件；创建新的顶层文件，将所创建的顶层文件作为新的验证对象进行仿真验证，并输出仿真结果；第二预设文件中包含的关键信号通过指针指向原始待验证电路中名称一致的关键信号。当某一些关键信号的验证覆盖率未达到预设要求时，测试人员可以根据第二预设格式文件中的测试结果，可以有针对性地修改这些关键信号对应的测试用例再次进行仿真验证，有效解决了验证不充分的问题。

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