一种高并行度的卷积运算取数方法和电路

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专利状态

一种高并行度的卷积运算取数方法和电路

有效

专利申请进度

申请

2019-09-09

申请公布

2020-02-04

授权

2022-07-01

预估到期

2039-09-09

专利基础信息

申请号	CN201910848453.2	申请日	2019-09-09
申请公布号	CN110751263A	申请公布日	2020-02-04
授权公布号	CN110751263B	授权公告日	2022-07-01
分类号	G06N3/04;G06N3/063
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	瑞芯微电子股份有限公司
申请人地址	福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼

专利法律状态

2022-07-01

授权

状态信息

授权
2020-02-04

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供了一种高并行度的卷积运算取数方法和电路，所述方法包括以下步骤：第一读数单元从主存储单元中读取第一数据，并将读取到的第一数据依次写入第一行缓存组中；第一重组控制单元在第一行缓存组被填满后，对第一行缓存组中的各缓存行缓存的第一数据进行组装，得到重组装后的单行第一数据，并将单行第一数据写入第一输出缓存单元中；第二读数单元和第二重组控制单元根据同样的方式从主存储单元中读取第二数据并写入第二输出缓存单元中；乘加阵列单元获取当前第一输出缓存单元中的第一数据和第二输出缓存单元中的第二数据，进行乘加运算后输出运算结果。上述方案可以有效提高数据读取并行度，进而提高卷积运算效率。

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