一种基于FPGA的SDIO接口测试设备与方法

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专利状态

一种基于FPGA的SDIO接口测试设备与方法

有效

专利申请进度

申请

2019-09-23

申请公布

2020-02-11

授权

2021-12-21

预估到期

2039-09-23

专利基础信息

申请号	CN201910899982.5	申请日	2019-09-23
申请公布号	CN110780189A	申请公布日	2020-02-11
授权公布号	CN110780189B	授权公告日	2021-12-21
分类号	G01R31/317
分类	测量；测试;
申请人名称	瑞芯微电子股份有限公司
申请人地址	福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼

专利法律状态

2021-12-31

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

状态信息

专利权人的姓名或者名称、地址的变更；IPC(主分类):G01R31/317；变更事项:专利权人；变更前:福州瑞芯微电子股份有限公司；变更后:瑞芯微电子股份有限公司；变更事项:地址；变更前:350000 福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼；变更后:350000 福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼
2021-12-21

授权

状态信息

授权
2020-03-06

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R31/317；申请日:20190923
2020-02-11

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供一种基于FPGA的SDIO接口测试设备与方法，使用FPGA设计一张基于SDIO3.0协议的虚拟SDIO卡来代替现有的实体SDIO卡，其包括CMD处理模块、CIA模块、命令响应模块以及读写测试模块，所述CMD处理模块分别连接令响应模块和读写测试模块，所述命令响应模块还连接所述CIA模块；CIA模块可提供CCCR寄存器、FBR寄存器和CIS寄存器以供定制满足FT测试要求的信息，使测试设备具有通用性，不仅测试的灵活性大大增加，同时简化了硬件设计和降低测试成本。

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