发光装置的光量补偿检查方法

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专利状态

发光装置的光量补偿检查方法

有效

专利申请进度

申请

2012-08-29

申请公布

2014-01-01

授权

2016-02-24

预估到期

2032-08-29

专利基础信息

申请号	CN201210312466.6	申请日	2012-08-29
申请公布号	CN103488067A	申请公布日	2014-01-01
授权公布号	CN103488067B	授权公告日	2016-02-24
分类号	G03G15/043
分类	摄影术；电影术；利用了光波以外其他波的类似技术；电记录术；全息摄影术〔4〕;
申请人名称	虹光精密工业（苏州）有限公司
申请人地址	江苏省苏州市工业园区扬泰路9号

专利法律状态

2019-12-13

专利实施许可合同备案的生效、变更及注销

状态信息

专利实施许可合同备案的生效；IPC(主分类):G03G 15/043；专利申请号:2012103124666；专利号:ZL2012103124666；合同备案号:X2019990000194；让与人:虹光精密工业(苏州)有限公司；受让人:虹光精密工业股份有限公司；发明名称:发光装置的光量补偿检查方法；申请日:20120829；申请公布日:20140101；授权公告日:20160224；许可种类:排他许可；备案日期:20191120
2019-09-13

专利申请权、专利权的转移

状态信息

专利权的转移；IPC(主分类):G03G 15/043；专利号:ZL2012103124666；登记生效日:20190827；变更事项:专利权人；变更前权利人:虹光精密工业股份有限公司；变更后权利人:虹光精密工业(苏州)有限公司；变更事项:地址；变更前权利人:中国台湾新竹科学工业园区研新一路20号；变更后权利人:江苏省苏州市工业园区扬泰路9号
2019-04-12

专利申请权、专利权的转移

状态信息

专利权的转移；IPC(主分类):G03G 15/043；专利号:ZL2012103124666；登记生效日:20190322；变更事项:专利权人；变更前权利人:日昌电子股份有限公司；变更后权利人:虹光精密工业股份有限公司；变更事项:地址；变更前权利人:中国台湾新北市新店区宝桥路235巷132号6楼；变更后权利人:中国台湾新竹科学工业园区研新一路20号
2016-02-24

发明专利权授予

状态信息

授权
2014-02-05

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G03G 15/043；申请日:20120829
2014-01-01

发明专利申请公布

状态信息

公布

摘要

一种光量补偿检查方法，适用于包含多个发光元件的发光装置，其包含逐一对发光元件执行下列步骤：测量发光元件于基准时间区间内输出的原始光量；根据所测得的原始光量与基准光量产生对应发光元件的校正值；以及根据校正值调整发光元件的光输出，使原始光量达到目标光量。

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