辐照实验板、监控终端、ASIC芯片辐照实验系统

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专利状态

辐照实验板、监控终端、ASIC芯片辐照实验系统

有效

专利申请进度

申请

2017-05-19

申请公布

2018-12-07

授权

2021-08-03

预估到期

2037-05-19

专利基础信息

申请号	CN201710358913.4	申请日	2017-05-19
申请公布号	CN108957283A	申请公布日	2018-12-07
授权公布号	CN108957283B	授权公告日	2021-08-03
分类号	G01R31/28
分类	测量；测试;
申请人名称	龙芯中科技术股份有限公司
申请人地址	北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼

专利法律状态

2021-08-03

授权

状态信息

授权
2021-02-09

著录事项变更

状态信息

著录事项变更；IPC(主分类):G01R31/28；变更事项:申请人；变更前:龙芯中科技术有限公司；变更后:龙芯中科技术股份有限公司；变更事项:地址；变更前:100095 北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼；变更后:100095 北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼
2019-01-01

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R31/28；申请日:20170519
2018-12-07

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供一种辐照实验板、监控终端、ASIC芯片辐照实验系统，其中，ASIC芯片辐照实验系统包括：监控终端、辐照实验板和智能电源，监控终端用于进行辐照实验的过程控制和数据显示；辐照实验板用于放置待测的ASIC芯片，根据监控终端发送的测试命令对ASIC芯片进行辐照实验测试，并将测试结果发送给监控终端；智能电源用于根据监控终端发送的电源控制命令对辐照实验板进行供电控制，并将根据监控终端发送的采集命令所采集到的ASIC芯片的各电压域的电压和电流数据发送给监控终端。本发明提供的技术方案，实现了对ASIC芯片的抗辐照实验及自动化控制。

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