集成电路输出端测试装置及集成电路

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专利状态

集成电路输出端测试装置及集成电路

有效

专利申请进度

申请

2018-02-07

申请公布

2019-08-13

授权

2022-02-15

预估到期

2038-02-07

专利基础信息

申请号	CN201810122635.7	申请日	2018-02-07
申请公布号	CN110118922A	申请公布日	2019-08-13
授权公布号	CN110118922B	授权公告日	2022-02-15
分类号	G01R31/28
分类	测量；测试;
申请人名称	龙芯中科技术股份有限公司
申请人地址	北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼

专利法律状态

2022-02-15

授权

状态信息

授权
2019-08-13

公布

状态信息

公布

摘要

本发明实施例提供一种集成电路输出端测试装置及集成电路，包括输入态引脚、测试逻辑组合单元、功能单元、第一输入选择单元、第二输入选择单元、第三输入选择单元、待测试双向引脚、待测试三态引脚、待测试输出引脚、第一状态选择单元和第二状态选择单元，输入态引脚与测试逻辑组合单元的输入端连接；第一输入选择单元、第二输入选择单元和第三输入选择单元的输入端分别与测试逻辑组合单元和功能单元的输出端连接，第一输入选择单元的输出端与待测试双向引脚连接，第二输入选择单元的输出端与待测试三态引脚连接，第三输入选择单元的输出端与待测试输出引脚连接，第一状态选择单元与待测试双向引脚连接。用于提高对集成电路输出端的测试效率。

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