一种操作系统的设备测试方法、装置和存储介质

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专利状态

一种操作系统的设备测试方法、装置和存储介质

有效

专利申请进度

申请

2017-06-13

申请公布

2018-12-25

授权

2022-08-16

预估到期

2037-06-13

专利基础信息

申请号	CN201710443449.9	申请日	2017-06-13
申请公布号	CN109086173A	申请公布日	2018-12-25
授权公布号	CN109086173B	授权公告日	2022-08-16
分类号	G06F11/22
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	龙芯中科技术股份有限公司
申请人地址	北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼

专利法律状态

2022-08-16

授权

状态信息

授权
2018-12-25

公布

状态信息

公布

摘要

本发明实施例提供了一种操作系统的设备测试方法、装置和存储介质，所述方法包括：获取通过特定接口接入操作系统的待测试设备的数量，所述待测试设备具有相应的设备信息；确定与所述待测试设备的数量相同的内存结构体；将每个待测试设备与每个内存结构体一一对应关联；分别将每个待测试设备的设备信息存储至关联的一个内存结构体中；依据所述设备信息，分别采用每个内存结构体对关联的每个待测试设备进行测试，解决了现有技术中对于不同的操作系统，当待测试设备的数量发生变化时不能进行设备测试的问题，简化了操作系统的设备测试流程，提高了测试的效率。

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