用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备及方法

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专利状态

用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备及方法

有效

专利申请进度

申请

2018-11-23

申请公布

2019-02-15

授权

2022-03-18

预估到期

2038-11-23

专利基础信息

申请号	CN201811405683.3	申请日	2018-11-23
申请公布号	CN109343014A	申请公布日	2019-02-15
授权公布号	CN109343014B	授权公告日	2022-03-18
分类号	G01S7/40;G01R31/00
分类	测量；测试;
申请人名称	四川九洲电器集团有限责任公司
申请人地址	四川省绵阳市科创园区九华路6号

专利法律状态

2022-03-18

授权

状态信息

授权
2019-02-15

公布

状态信息

公布

摘要

本发明涉及用于测试相控阵雷达的T/R组件的设备及方法。所述T/R组件包括多个通道，所述设备包括：多路矩阵开关，与多个通道对应，用于将选定的通道接入测试回路；工业平板电脑，用于选择测试通道及测试指标，并选择与测试通道对应的矩阵开关通路；校准源，用于输出校准信号至测试通道并产生本振信号；接收机，用于接收经过测试通道和矩阵开关通路的校准信号和来自校准源的本振信号，并将校准信号进行衰减后再与本振信号进行混频后再转换成数字信号；处理板，用于接收数字信号并根据数字信号获取测试通道的幅度和相位，并将幅度和相位传输至工业平板电脑，其中，工业平板电脑还用于根据幅度和相位判断测试通道在测试指标下的测试结果。

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