一种存储芯片的测试方法以及测试装置

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专利状态

一种存储芯片的测试方法以及测试装置

有效

专利申请进度

申请

2018-10-29

申请公布

2019-02-15

授权

2020-11-27

预估到期

2038-10-29

专利基础信息

申请号	CN201811270214.5	申请日	2018-10-29
申请公布号	CN109346121A	申请公布日	2019-02-15
授权公布号	CN109346121B	授权公告日	2020-11-27
分类号	G11C29/50;G11C29/56
分类	信息存储;
申请人名称	深圳市江波龙电子股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1

专利法律状态

2020-11-27

授权

状态信息

授权
2019-03-12

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G11C 29/50；专利申请号:2018112702145；申请日:20181029
2019-02-15

发明专利申请公布

状态信息

公布

摘要

本申请公开了一种存储芯片的测试方法以及测试装置，该存储芯片的测试方法包括：在待测存储芯片从工作状态切换至深度睡眠状态后，获取待测存储芯片的设定电特征参数；判断设定电特征参数是否满足预设条件；若是，则确定待测存储芯片满足测试要求。通过上述方式，能够快速高效的测出存在微破损的存储芯片，节约测试时间，减少生产成本，且提高后续需应用存储芯片的电子产品的良率。

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