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专利状态
一种探测基板及其信号采集方法、显示装置
有效
专利申请进度
申请
2021-04-20
申请公布
2021-07-20
授权
2024-03-15
预估到期
2041-04-20
专利基础信息
申请号 CN202110427080.9 申请日 2021-04-20
申请公布号 CN113138695A 申请公布日 2021-07-20
授权公布号 CN113138695B 授权公告日 2024-03-15
分类号 G06F3/042;G06F3/041;G09F9/30
分类 计算;推算;计数;
申请人名称 京东方科技集团股份有限公司
申请人地址 北京市朝阳区酒仙桥路10号
专利法律状态
  • 2024-03-15
    授权
    状态信息
    授权
  • 2021-07-20
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明提供了一种探测基板及其信号采集方法、显示装置,涉及显示技术领域,该探测基板能够较好的清除残影,成像效果好。该探测基板被配置为在至少一个信号采集周期采集信号,信号采集周期按时序包括重置帧周期、至少一个清空帧周期、读取帧周期;重置帧周期包括至少一个正压重置帧子周期和至少一个负压重置帧子周期,且按时序第一个为正压重置帧子周期、最后一个为负压重置帧子周期。探测基板包括:阵列排布的多个像素单元,像素单元包括控制单元和光电转换单元;偏置单元;栅极控制单元;数据读取单元。本发明适用于探测基板的信号采集。