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专利状态
一种串行传输芯片测试方法、系统及集成芯片
有效
专利申请进度
申请
2013-12-17
申请公布
2014-04-23
授权
2016-12-07
预估到期
2033-12-17
专利基础信息
申请号
CN201310693217.0
申请日
2013-12-17
申请公布号
CN103744009A
申请公布日
2014-04-23
授权公布号
CN103744009B
授权公告日
2016-12-07
分类号
G01R31/28
分类
测量;测试;
申请人名称
记忆科技(深圳)有限公司
申请人地址
广东省深圳市南山区蛇口后海大道东角头厂房D13/F、D23/F、D14/F、D24/F、D15/F
专利法律状态
2016-12-07
授权
状态信息
授权
2014-05-21
实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20131217
2014-04-23
公布
状态信息
公开
摘要
本发明适用于芯片测试领域,提供了一种串行传输芯片测试方法。该方法包括:通过串行总线接收测试主机发来的测试信息,测试信息包括:待测模块编号、待测模块寄存器地址、读写控制命令以及控制数据;将接收到的测试信息进行异步处理及串并转换,并存储转换后的测试信息;当测试信息接收完成后,根据写控制命令以及待测模块寄存器地址将控制数据通过芯片内部总线写入待测模块寄存器,或者根据读控制命令以及待测模块寄存器地址通过芯片内部总线从待测模块寄存器读出数据并将读出数据通过串行方式发送给测试主机。借此,本发明可实现多个逻辑单元的同时测试,节省芯片I/O数量以及测试时间。
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