一种基于扫描链的芯片分析方法

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专利状态

一种基于扫描链的芯片分析方法

有效

专利申请进度

申请

2017-06-29

申请公布

2017-11-07

授权

2021-05-28

预估到期

2037-06-29

专利基础信息

申请号	CN201710516715.6	申请日	2017-06-29
申请公布号	CN107329867A	申请公布日	2017-11-07
授权公布号	CN107329867B	授权公告日	2021-05-28
分类号	G06F11/22;G06F11/263
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	记忆科技（深圳）有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区蛇口街道蛇口后海大道东角头厂房D14/F、D24/F、D15/F

专利法律状态

2021-05-28

授权

状态信息

授权
2017-12-01

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G06F11/22；申请日:20170629
2017-11-07

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种基于扫描链的芯片分析方法，其特征在于芯片内部的存储器的时钟和带扫描输入寄存器的时钟统一由片外控制，存储器的读写控制信号CE与扫描链的片选信号SI相连接，存储器的地址信号分别连接到位于扫描链头部的带扫描输入寄存器的输出端；存储器的地址信号ADDR[1]与数据信号DATA[0]分别连接在同一个数据选择器的两个输入端，该数据选择器的输出端与DATA[1]分别连接在另一个数据选择器的两个输入端，两个数据选择器的输出端分别连接到位于扫描链尾部的两个带扫描输入寄存器的输入端；两个数据选择器的控制端与采样信号相连。通过提出一种不依赖于CPU和Jtag的方式，并以兼容复用扫描链定位芯片内部问题的逻辑，快速定位芯片内部存储问题，节省debug时间，排除制造及设计可能引入或存在的问题。

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