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专利状态
电子开关测试装置及方法
有效
专利申请进度
申请
2020-09-04
申请公布
2020-12-29
授权
2023-02-28
预估到期
2040-09-04
专利基础信息
申请号 CN202010922677.6 申请日 2020-09-04
申请公布号 CN112147496A 申请公布日 2020-12-29
授权公布号 CN112147496B 授权公告日 2023-02-28
分类号 G01R31/327
分类 测量;测试;
申请人名称 深圳市欧瑞博科技股份有限公司
申请人地址 广东省深圳市南山区学苑大道1001号南山智园A7栋7楼
专利法律状态
  • 2023-02-28
    授权
    状态信息
    授权
  • 2020-12-29
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本申请公开了一种电子开关测试装置及方法,涉及电子开关技术领域,电子开关测试装置包括:控制单元、待测开关、负载模拟单元、计数单元及冲击电流检测单元。所述控制单元用于控制所述待测开关的导通和断开状态;所述负载模拟单元用于在通过所述待测开关使所述负载模拟单元与所述电源导通时产生冲击电流;所述冲击电流检测单元用于在所述待测开关导通时,检测是否存在冲击电流,若存在,则触发所述计数单元更新当前计数值,所述当前计数值表征所述负载模拟单元与所述电源的导通次数,若不存在,则向所述控制单元发送停止测试指令。本申请通过简单易行的方式,测试了待测开关在较大冲击电流下的使用寿命。