开关性能测试方法、装置、电子设备及存储介质

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专利状态

开关性能测试方法、装置、电子设备及存储介质

有效

专利申请进度

申请

2021-09-08

申请公布

2021-12-17

授权

2023-06-27

预估到期

2041-09-08

专利基础信息

申请号	CN202111051682.5	申请日	2021-09-08
申请公布号	CN113805051A	申请公布日	2021-12-17
授权公布号	CN113805051B	授权公告日	2023-06-27
分类号	G01R31/327
分类	测量；测试;
申请人名称	深圳市欧瑞博科技股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区学苑大道1001号南山智园A7栋7楼

专利法律状态

2023-06-27

授权

状态信息

授权
2022-01-04

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R31/327；申请日:20210908
2021-12-17

公布

状态信息

公布

摘要

本申请公开了一种开关性能测试方法，应用于单火开关设备的测试电路，单火开关设备适于接入测试电路以备测试，测试电路包括第一负载、第二负载，单火开关设备包括控制电路，第二负载与控制电路串联，控制电路与第一负载串联后接入电源电路，方法包括：根据单火开关设备的取电模式，对第二负载进行电流调节；根据电流调节，获取第二负载的临界电流，临界电流用于表征第二负载正常工作所需最低电压对应的电流值；根据临界电流，确定单火开关设备的功耗范围。本方法可较为准确地量化开关性能的测试结果，有利于智能单火开关的优化设计。

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