导电粒子的检测方法_专利查询-品牌网

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专利状态

导电粒子的检测方法

有效

专利申请进度

申请

2021-03-25

申请公布

2021-07-13

授权

2023-12-01

预估到期

2041-03-25

专利基础信息

申请号	CN202110319251.6	申请日	2021-03-25
申请公布号	CN113112396A	申请公布日	2021-07-13
授权公布号	CN113112396B	授权公告日	2023-12-01
分类号	G06T3/00;G06T3/60;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/187;G06T7/64;G06V10/22
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	苏州华兴源创科技股份有限公司
申请人地址	江苏省苏州市苏州工业园区青丘巷8号

专利法律状态

2023-12-01

授权

状态信息

授权
2021-07-30

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G06T3/00；申请日:20210325
2021-07-13

公布

状态信息

公布

摘要

本发明涉及ACF导电粒子压合检测技术领域，公开了一种导电粒子的检测方法，包括采集导电粒子图像，所述导电粒子图像中包括标记图形和目标区域；所述标记图形用于定位所述目标区域；根据所述标记图形和所述目标区域的相对位置关系，获取所述导电粒子图像中的目标区域图像；确定所述目标区域图像中凸点区域的边缘，并对所述目标区域图像进行划分获取凸点区域图像；查找所述凸点区域图像中的导电粒子；统计并输出所述导电粒子的检测结果。通过两次定位来精准地分割导电粒子图像中的凸点区域，并对凸点区域内的导电粒子进行检查，可以有效减少图像偏移对检测结果的影响，提高导电粒子的检测精度及检测效率。

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