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专利状态
生产测试方法、无线智能设备、上位机、电子设备及介质
有效
专利申请进度
申请
2021-04-01
申请公布
2021-07-09
授权
2024-01-05
预估到期
2041-04-01
专利基础信息
申请号 CN202110356319.8 申请日 2021-04-01
申请公布号 CN113098869A 申请公布日 2021-07-09
授权公布号 CN113098869B 授权公告日 2024-01-05
分类号 H04L9/40;H04L67/141;G06K7/14;G06F21/31
分类 电通信技术;
申请人名称 上海创米数联智能科技发展股份有限公司
申请人地址 上海市闵行区紫星路588号1幢11层001A室
专利法律状态
  • 2024-01-05
    授权
    状态信息
    授权
  • 2022-01-28
    著录事项变更
    状态信息
    著录事项变更;IPC(主分类):H04L29/06;变更事项:申请人;变更前:上海创米科技有限公司;变更后:上海创米数联智能科技发展股份有限公司;变更事项:地址;变更前:200233 上海市徐汇区桂平路391号A座29层;变更后:200241 上海市闵行区紫星路588号1幢11层001A室
  • 2021-07-27
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):H04L29/06;申请日:20210401
  • 2021-07-09
    公布
    状态信息
    公布
摘要
一种生产测试方法、无线智能设备、上位机、电子设备及介质。所述方法包括:建立与待测无线智能设备之间的无线连接;向所述待测无线智能设备发送认证信息;向所述待测无线智能设备发送用于生产测试所需的相关数据,以实现对所述待测无线智能设备的生产测试。应用上述方案,可以减小无线智能设备固件镜像占用的存储空间。