一种基于分子探针的汞离子荧光分析方法

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专利状态

一种基于分子探针的汞离子荧光分析方法

有效

专利申请进度

申请

2017-06-28

申请公布

2017-11-24

授权

2020-11-17

预估到期

2037-06-28

专利基础信息

申请号	CN201710509623.5	申请日	2017-06-28
申请公布号	CN107389632A	申请公布日	2017-11-24
授权公布号	CN107389632B	授权公告日	2020-11-17
分类号	G01N21/64
分类	测量；测试;
申请人名称	苏州浪声科学仪器有限公司
申请人地址	江苏省苏州市苏州高新区竹园路209号

专利法律状态

2020-11-17

授权

状态信息

授权
2017-12-19

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01N21/64；申请日:20170628
2017-11-24

公布

状态信息

公布

摘要

本发明涉及一种基于分子探针的汞离子荧光分析方法，方法中分子探针的溶解试剂以及分子探针与汞离子相互作用时的溶剂均为乙腈，该分子探针与汞离子相互作用后荧光发射强度显著增强，荧光发射强度与汞离子浓度之间的良好线性关系来检测环境和人体中的痕量汞离子。本发明的基于分子探针的汞离子荧光分析方法灵敏度和准确度高，钙离子，钴离子，镁离子，镍离子，铜离子等离子对汞离子的检测均无干扰，体现了本发明的分子探针对汞离子具有较好的识别性，选择性高。

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