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专利状态
紫外检测器光学细分装置
有效
专利申请进度
申请
2015-04-16
申请公布
2015-07-15
授权
2017-09-12
预估到期
2035-04-16
专利基础信息
申请号 CN201510180568.0 申请日 2015-04-16
申请公布号 CN104777259A 申请公布日 2015-07-15
授权公布号 CN104777259B 授权公告日 2017-09-12
分类号 G01N30/74
分类 测量;测试;
申请人名称 浙江福立分析仪器有限公司
申请人地址 浙江省台州市温岭市城东街道百丈南路95号
专利法律状态
  • 2017-11-14
    专利权人的姓名或者名称、地址的变更
    状态信息
    专利权人的姓名或者名称、地址的变更;IPC(主分类):G01N30/74;变更事项:专利权人;变更前:浙江福立分析仪器有限公司;变更后:浙江福立分析仪器股份有限公司;变更事项:地址;变更前:317500 浙江省台州市温岭市温岭经济开发区产学研园区;变更后:317500 浙江省台州市温岭市城东街道百丈南路95号
  • 2017-09-12
    授权
    状态信息
    授权
  • 2015-09-09
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G01N30/74;申请日:20150416
  • 2015-07-15
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明属于紫外检测器技术领域,特指一种紫外检测器光学细分装置,包括有设置在光路箱体上的灯源、滤光镜、反光镜、凹面光栅、半透半反镜、参比光电池、流过池及样品光电池,灯源的光依次经过滤光镜、反光镜、凹面光栅、半透半反镜,并从半透半反镜分别经过参比光电池及流过池、样品光电池,凹槽光栅由步进电机驱动转动,在电机转轴上设置有与凹槽光栅同步转动的光耦挡片,在光耦挡片的一侧设置有光耦,每次通电时由光耦及光耦挡片配合检测光耦零点实现凹槽光栅的原点定位;本发明克服了现有检测器光学单元的缺点,提高仪器稳定性、优化仪器的操作、降低仪器的生产成本、简化零件的数量。