• 热门行业
  • 装修建材
  • 家居生活
  • 餐饮食品
  • 母婴教育
  • 电脑办公
  • 服装首饰
  • 汽车工具
  • 家电数码
  • 机械化工
  • 休闲美容
返回上一页
专利状态
SDK检测方法、装置、电子设备、系统和存储介质
有效
专利申请进度
申请
2021-01-12
申请公布
2021-04-30
授权
2023-03-10
预估到期
2041-01-12
专利基础信息
申请号 CN202110037124.7 申请日 2021-01-12
申请公布号 CN112732581A 申请公布日 2021-04-30
授权公布号 CN112732581B 授权公告日 2023-03-10
分类号 G06F11/36;G06F8/53;G06F8/61
分类 计算;推算;计数;
申请人名称 京东科技控股股份有限公司
申请人地址 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室
专利法律状态
  • 2023-03-10
    授权
    状态信息
    授权
  • 2021-04-30
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明实施例公开了一种SDK检测方法、装置、电子设备、系统和存储介质,该SDK检测方法包括:反编译目标应用程序的安装包得到目标文件;根据目标文件的指定信息及预设SDK集合确定目标应用程序中集成的目标SDK;根据目标SDK为目标应用程序生成SDK检测集。本发明实施例中,可以根据反编译得到的目标文件的指定信息及预设SDK集合自动检测目标应用程序中集成的SDK,因而不再需要人工检测SDK,提高了SDK的检测效率,且利用预设SDK集合可以实现SDK的全面检测,避免漏检。