一种用于三孔行星架类零件的综合检具

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专利状态

一种用于三孔行星架类零件的综合检具

有效

专利申请进度

申请

2022-11-26

授权

2023-04-07

预估到期

2032-11-26

专利基础信息

申请号	CN202223146867.7	申请日	2022-11-26
授权公布号	CN218822011U	授权公告日	2023-04-07
分类号	G01B5/00
分类	测量；测试;
申请人名称	田中金属加工（上海）有限公司
申请人地址	上海市嘉定区马陆镇樊家村

专利法律状态

2023-04-07

授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型涉及一种用于三孔行星架类零件的综合检具，该综合检具包括：底座，其具有底座本体、以及可穿过所述第一通孔的定位柱；检具模板，其中心位置具有与所述第一通孔对应连通的第二通孔，在检具模板上还分布有三个与所述圆周均布孔位置对应并相连通的检测孔；用于穿过所述检测孔并插入所述圆周均布孔内进行检测的检测销轴。与现有技术相比，本实用新型可以实现对三孔行星架类零件的检测效率与质量等。

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