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专利状态
一体化综合测试装置以及基于其的测试方法
有效
专利申请进度
申请
2021-12-10
申请公布
2022-01-11
授权
2022-02-08
预估到期
2041-12-10
专利基础信息
申请号 CN202111507398.4 申请日 2021-12-10
申请公布号 CN113922871A 申请公布日 2022-01-11
授权公布号 CN113922871B 授权公告日 2022-02-08
分类号 H04B10/079;H04L43/18;H04L43/20
分类 电通信技术;
申请人名称 长芯盛(武汉)科技有限公司
申请人地址 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区光谷三路196号长飞科技园(二期)201号综合厂房3-4层
专利法律状态
  • 2022-02-08
    授权
    状态信息
    授权
  • 2022-01-11
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明涉及一种一体化综合测试装置以及基于其的测试方法,其中一体化综合测试装置包括:控制单元,其配置成获取关于待测试有源光缆的测试信息,并基于测试信息输出测试指令;低速信号测试单元,其包括子测试单元和信号源,其中子测试单元配置成接收测试指令以及控制信号源输出测试信号,其中测试信号为模拟有源光缆与设备间握手交互用的低速协议信号;接口单元配置成接收且向待测试有源光缆输出所述测试信号以及向子测试单元输出待测试有源光缆的反馈信号;子测试单元还配置成对反馈信号进行测试分析;以及将对反馈信号的分析结果发送至控制单元。通过本发明的方案,能够支持有源光缆的低速协议信号的测试,且有效简化测试操作以及提高测试效率。