一种自适应缺陷检测方法、装置及电子设备

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专利状态

一种自适应缺陷检测方法、装置及电子设备

有效

专利申请进度

申请

2016-11-24

申请公布

2018-06-01

授权

2021-01-12

预估到期

2036-11-24

专利基础信息

申请号	CN201611050869.2	申请日	2016-11-24
申请公布号	CN108107611A	申请公布日	2018-06-01
授权公布号	CN108107611B	授权公告日	2021-01-12
分类号	G02F1/13;G06T5/10;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/194
分类	光学;
申请人名称	研祥智能科技股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市光明新区高新路11号研祥智谷创祥地1号5楼

专利法律状态

2021-01-12

授权

状态信息

授权
2018-10-26

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效
2018-06-01

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供一种自适应缺陷检测方法、装置及电子设备。所述方法包括：对校正过的待检测的图像进行同态滤波；将滤波后的图像的灰度值统一化；对任意一张经过灰度值统一化的图像进行自适应阈值分割，得到自适应灰度值的图像；对所述自适应灰度值的图像分块，进行自动阈值分割以显示出每个图像块的缺陷区域；合并所有图像块的缺陷区域；以合并后的缺陷区域的中心为圆心画出半径为预定数量的像素点的圆；对所述圆内的缺陷进行分类。本发明能够替代人工检测，实现不同型号的电视液晶模组的自适应缺陷检测。

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