一种基于小波细节特征的物质和峰解析方法

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专利状态

一种基于小波细节特征的物质和峰解析方法

有效

专利申请进度

申请

2016-03-15

申请公布

2016-07-27

授权

2018-04-17

预估到期

2036-03-15

专利基础信息

申请号	CN201610146693.4	申请日	2016-03-15
申请公布号	CN105808506A	申请公布日	2016-07-27
授权公布号	CN105808506B	授权公告日	2018-04-17
分类号	G06F17/15;G06F17/16
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	北京时代之峰科技有限公司
申请人地址	北京市海淀区上地西路28号

专利法律状态

2019-11-15

专利权质押合同登记的生效、变更及注销

状态信息

专利权质押合同登记的注销IPC(主分类):G06F 17/15授权公告日:20180417登记号:2018990000883出质人:北京时代之峰科技有限公司质权人:北京银行股份有限公司中关村海淀园支行解除日:20191022
2018-10-26

专利权质押合同登记的生效、变更及注销

状态信息

专利权质押合同登记的生效IPC(主分类):G06F 17/15登记号:2018990000883登记生效日:20180926出质人:北京时代之峰科技有限公司质权人:北京银行股份有限公司中关村海淀园支行发明名称:一种基于小波细节特征的物质和峰解析方法授权公告日:20180417
2018-04-17

授权

状态信息

授权
2016-08-24

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G06F 17/15申请日:20160315
2016-07-27

公布

状态信息

公开

摘要

本发明的实施方式提供了一种基于小波细节特征的物质和峰解析方法，包括：采样待测物质经X射线激发所辐射的信号，将采样得到的信号的强度值组成原始数据序列；对所述原始数据序列进行一级小波分解得到一级小波细节序列；利用所述一级小波细节序列拟合待测物质的和峰函数；对所述待测物质的和峰函数进行分析，输出分析结果。本发明利用小波变换实现了物质和峰函数的解析，通过实际测试及函数拟合得到的结果表示利用本发明得到的和峰解析结果准确率较高，能够满足目前国际上对同类型测量分析的误差要求，相比于现有技术，本发明具有准确率高、计算速度快等优点。

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