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专利状态
待测器件验证装置及相关产品
有效
专利申请进度
申请
2019-04-10
申请公布
2019-07-26
授权
2022-12-09
预估到期
2039-04-10
专利基础信息
申请号
CN201910288744.0
申请日
2019-04-10
申请公布号
CN110059390A
申请公布日
2019-07-26
授权公布号
CN110059390B
授权公告日
2022-12-09
分类号
G06F30/3308
分类
计算;推算;计数;
申请人名称
中科寒武纪科技股份有限公司
申请人地址
北京市海淀区科学院南路6号科研综合楼644室
专利法律状态
2022-12-09
授权
状态信息
授权
2019-07-26
公布
状态信息
公布
摘要
本申请提供了一种待测器件验证装置及相关产品,该待测器件验证装置用于进行机器状态验证,本申请实施例通过构建地址依赖树,并根据机器状态快照反复对指令序列进行验证,直到获得作错误指令,从而,可准确、快速地对指令序列进行验证,确定错误指令所在的位置,提高机器状态验证的效率。
更多专利
1
运算方法、装置及相关产品
2
数据输出方法及相关装置
3
处理器、数据处理方法、计算机设备和存储介质
4
数据处理方法及装置以及相关产品
5
一种防止数据溢出的方法、装置和芯片
6
运算方法、装置及相关产品
7
实现热迁移的方法、芯片、板卡和存储介质
8
一种计算装置及相关产品
9
一种用于执行AdaGrad梯度下降训练算法的装置和方法
10
集成电路装置、电子设备、板卡和计算方法
11
检测方法、装置、计算机设备和存储介质
12
训练装置及方法
13
一种基于多处理节点来进行节点间通信的方法和设备
14
数据处理方法、装置、计算机设备和存储介质
15
优化深度神经网络的参数的处理系统、集成电路及板卡
16
神经网络的反向运算稀疏方法及相关产品
17
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18
运算方法、系统及相关产品
19
SLAM运算装置和方法
20
SLAM运算装置和方法
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