测定非晶体固体电解质界面膜的厚度的拉曼光谱方法

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专利状态

测定非晶体固体电解质界面膜的厚度的拉曼光谱方法

有效

专利申请进度

申请

2013-12-25

申请公布

2015-07-01

授权

2018-01-12

预估到期

2033-12-25

专利基础信息

申请号	CN201310726327.2	申请日	2013-12-25
申请公布号	CN104748690A	申请公布日	2015-07-01
授权公布号	CN104748690B	授权公告日	2018-01-12
分类号	G01B11/06
分类	测量；测试;
申请人名称	远景能源有限公司
申请人地址	江苏省无锡市江阴市申港街道申庄路3号

专利法律状态

2020-11-17

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

状态信息

专利权人的姓名或者名称、地址的变更；IPC(主分类):G01B 11/06；专利号:ZL2013107263272；变更事项:专利权人；变更前:远景能源(江苏)有限公司；变更后:远景能源有限公司；变更事项:地址；变更前:214443 江苏省无锡市江阴临港新城低碳产业园申庄路3号；变更后:214443 江苏省无锡市江阴市申港街道申庄路3号
2018-01-12

发明专利权授予

状态信息

授权
2015-12-23

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01B 11/06；申请日:20131225
2015-07-01

发明专利申请公布

状态信息

公布

摘要

本发明涉及测量非晶体固体电解质界面(SEI)膜的厚度的方法。具体而言，本发明提供了一种利用激光拉曼光谱仪测量基体表面上SEI膜厚度的方法，该方法使用测量激光来测量拉曼光谱，使用消融激光来烧灼SEI膜，根据从所得拉曼光谱推导出的完全消融时间Tc和消融速率V来计算出SEI膜厚度H。

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