采用可编程继电器结构的可编程逻辑控制器自动测试平台

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专利状态

采用可编程继电器结构的可编程逻辑控制器自动测试平台

有效

专利申请进度

申请

2010-10-22

申请公布

2012-05-16

授权

2014-04-16

预估到期

2030-10-22

专利基础信息

申请号	CN201010515723.7	申请日	2010-10-22
申请公布号	CN102455701A	申请公布日	2012-05-16
授权公布号	CN102455701B	授权公告日	2014-04-16
分类号	G05B23/02
分类	控制；调节;
申请人名称	施耐德电气（中国）有限公司
申请人地址	北京市朝阳区望京东路6号A座

专利法律状态

2014-04-16

授权

状态信息

授权
2013-05-01

专利申请权、专利权的转移

状态信息

专利申请权的转移；IPC(主分类):G05B23/02；变更事项:申请人；变更前:施耐德电器工业公司；变更后:施耐德电气（中国）有限公司；变更事项:地址；变更前:法国吕埃-马迈松；变更后:100102 北京市朝阳区望京东路6号A座；登记生效日:20130410
2012-06-27

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G05B23/02；申请日:20101022
2012-05-16

公布

状态信息

公布

摘要

一种对多个具有CPU的PLC测试样本进行测试的自动测试平台，测试PLC的模拟或数字输入和输出模块，包括：可编程直流电源、万用表、可控温箱，用于配合测试需要提供相应的测试功能；具有可编程继电器结构的测试通道选择控制模块，与PLC测试样本的输入/输出通道连接，接收通道设置指令来选择和控制测试样本的通道；和进行通信控制的计算机。该系统结构通过可编程工具可用于单、多通道非隔离的PLC测试，还可用于多通道隔离的批量PLC测试。与现有技术的固定不动的继电器系统结构相比，本发明结构更准确、灵活和省时。实践证明本发明的PLC自动测试平台能节省人力资源、极大地缩短PLC测试周期。

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