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专利状态
一种基于SARADC的校准方法及SARADC系统
有效
专利申请进度
申请
2017-05-31
申请公布
2018-12-11
授权
2022-08-09
预估到期
2037-05-31
专利基础信息
申请号 CN201710399407.X 申请日 2017-05-31
申请公布号 CN108988860A 申请公布日 2018-12-11
授权公布号 CN108988860B 授权公告日 2022-08-09
分类号 H03M1/10;H03M1/46N
分类 基本电子电路;
申请人名称 深圳市中兴微电子技术有限公司
申请人地址 广东省深圳市南山区西丽街道留仙大道中兴工业园
专利法律状态
  • 2022-08-09
    授权
    状态信息
    授权
  • 2018-12-11
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本文公布了一种一种基于SAR ADC的校准方法及SAR ADC系统,包括:对同一输入信号采样两次,并在两次采样的所述同一输入信号上分别叠加方向相反的扰动信号,得到两个量化结果;将所述两个量化结果在数字域相减,并利用最小均方LMS算法调整电容阵列中每比特电容的权重值,驱动误差趋近于0。本申请不仅校准速度快、精度高,而且能够实现片上集成。