一种MTK耦合测试方法、系统及介质

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专利状态

一种MTK耦合测试方法、系统及介质

有效

专利申请进度

申请

2023-12-11

申请公布

2024-01-12

授权

2024-03-19

预估到期

2043-12-11

专利基础信息

申请号	CN202311689680.8	申请日	2023-12-11
申请公布号	CN117395707A	申请公布日	2024-01-12
授权公布号	CN117395707B	授权公告日	2024-03-19
分类号	H04W24/08
分类	电通信技术;
申请人名称	深圳市天龙世纪科技发展有限公司
申请人地址	广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区泉新源工业区1号工业楼3层、5层

专利法律状态

2024-03-19

授权

状态信息

授权
2024-01-30

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):H04W24/08；申请日:20231211
2024-01-12

公布

状态信息

公布

摘要

本申请实施例提供了一种MTK耦合测试方法、系统及介质，该方法包括：获取射频信号，将射频信号进行预处理，得到优化信号；根据优化信号进行调制，得到调试信号；根据调试信号对MTK进行耦合测试，得到耦合结果；将耦合结果与预设的结果进行比较，得到耦合偏差；根据耦合偏差生成补偿信息，根据补偿信息对调制信号进行补偿，得到补偿结果；根据补偿结果对MTK进行二次耦合，并测试信息，将测试信息按照预定的方式传输至终端；通过射频信号对MTK进行耦合测试，并根据耦合测试结果进行实时调整射频信号，从而提高耦合测试精度。

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