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专利状态
一种检测IGBT使用寿命是否达标的方法及装置
有效
专利申请进度
申请
2016-12-06
申请公布
2018-06-15
授权
2020-04-14
预估到期
2036-12-06
专利基础信息
申请号 CN201611110933.1 申请日 2016-12-06
申请公布号 CN108169650A 申请公布日 2018-06-15
授权公布号 CN108169650B 授权公告日 2020-04-14
分类号 G01R31/26
分类 测量;测试;
申请人名称 深圳市蓝海华腾技术股份有限公司
申请人地址 广东省深圳市南山区西丽阳光社区新锋大楼B栋6层
专利法律状态
  • 2020-04-14
    授权
    状态信息
    授权
  • 2018-07-13
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效IPC(主分类):G01R31/26
  • 2018-06-15
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种检测IGBT使用寿命是否达标的方法及装置,涉及IGBT模块测试技术领域。本发明实施例提供的一种检测IGBT使用寿命是否达标的方法,通过根据用户设置的参数测试对象生成相应的测试信号;根据测试信号对IGBT连续进行N次循环测试;当IGBT的工作温度首次大于温度阈值时,获取IGBT芯片与外壳的第一温差值;若IGBT的第一温差值大于0,在第N次测试中,当IGBT的工作温度大于所述温度阈值时,获取IGBT芯片与所述外壳的第二温差值;若IGBT的第二温差值与IGBT的第一温差值的差大于预设阈值,输出第一信号以提示IGBT使用寿命不达标;反之,输出第二信号以提示IGBT使用寿命达标。使得检测IGBT使用寿命是否达标的步骤更简单,降低了检测成本,更易推广。