分子诊断设备及用于分子诊断设备的检测卡检测座

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专利状态

分子诊断设备及用于分子诊断设备的检测卡检测座

有效

专利申请进度

申请

2022-02-25

授权

2022-08-19

预估到期

2032-02-25

专利基础信息

申请号	CN202220406058.6	申请日	2022-02-25
授权公布号	CN217238109U	授权公告日	2022-08-19
分类号	G01N35/00;G01N35/04;G01N21/64;G01N21/01
分类	测量；测试;
申请人名称	深圳市理邦精密仪器股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市坪山新区坑梓街道金沙社区金辉路15号

专利法律状态

2022-08-19

授权

状态信息

授权

摘要

本申请提供了一种分子诊断设备及用于分子诊断设备的检测卡检测座，涉及分子检测技术领域。在检测卡检测座中，光源用于发出激发光；第一透镜模组用于接收并透过激发光；功能膜片组用于对透过第一透镜模组的激发光进行接收并透过；激发光纤用于对透过功能膜片组的激发光进行传输，用于对检测卡照射激发光；接收光纤用于接收由激发光照射检测卡生成的荧光；第二透镜模组用于接收接收光纤传输来的荧光；传感器用于对透过第二透镜模组的荧光进行接收。本申请利用第一透镜模组及功能膜片组对激发光进行处理，利用第二透镜模组对荧光进行处理，整体结构另涉及到光源和光传感器，所以整体结构较为简单，适合在分子诊断设备中使用。

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