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专利状态
一种超薄工件检具
有效
专利申请进度
申请
2021-10-26
授权
2022-03-08
预估到期
2031-10-26
专利基础信息
申请号 CN202122585204.4 申请日 2021-10-26
授权公布号 CN215984283U 授权公告日 2022-03-08
分类号 G01B5/00
分类 测量;测试;
申请人名称 深圳长城开发科技股份有限公司
申请人地址 广东省深圳市福田区彩田路7006号
专利法律状态
  • 2022-03-08
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型公开了一种超薄工件检具,适用于需要使用背光条件进行光学检测的矩形超薄片形工件,所述检具由透明材质制成,所述检具的正面往反面方向凹陷形成有一标准矩形形状的用于放置被检工件的凹形工件平台,所述凹形工件平台上设置有刻度线,所述检具的反面与所述凹形工件平台对应的区域分布用于展平变形的超薄片形工件的多个磁铁,本实用新型解决了工件自然摆放时因应力导致变形从而影响测量结果的问题,提高了该类型工件检测的准确性,同时,解决了工件在二次元机台玻璃板上无法用螺丝固定,导致很难每次都将工件放到同一位而无法实现自动测量的问题,提高和该类型工件检测的工作效率。