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专利状态
一种信号相位差的检测方法及系统
有效
专利申请进度
申请
2016-10-18
申请公布
2017-05-10
授权
2019-06-25
预估到期
2036-10-18
专利基础信息
申请号 CN201610907926.8 申请日 2016-10-18
申请公布号 CN106645952A 申请公布日 2017-05-10
授权公布号 CN106645952B 授权公告日 2019-06-25
分类号 G01R25/08
分类 测量;测试;
申请人名称 上海华虹计通智能系统股份有限公司
申请人地址 上海市长宁区广顺路33号H幢3-4F
专利法律状态
  • 2019-06-25
    授权
    状态信息
    授权
  • 2017-06-06
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G01R25/08;申请日:20161018
  • 2017-05-10
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种信号相位差的检测方法,包括:步骤S100获取待检测信号及频率相同且具有基准相位的基准信号,并根据所述待检测信号的信号频率结合所需的检测精度信息获取总采样次数;步骤S200将所述基准信号与所述待检测信号组合成为与所述待检测信号频率相同的待检相差信号;步骤S300根据信号频率获取所述待检相差信号的脉宽个数信息;步骤S400根据所需的检测精度信息和所述脉宽个数信息获取所述待检测信号的相位差信息。本发明的提供了一种信号相位差的检测方法及系统,其目的是通过利用微小差频时钟采样信号实现检测同频相位差。