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专利状态
黑体
有效
专利申请进度
申请
2020-05-07
授权
2020-12-18
预估到期
2030-05-07
专利基础信息
申请号 CN202030200372.5 申请日 2020-05-07
授权公布号 CN306235682S 授权公告日 2020-12-18
分类号 10-05(12)
分类
申请人名称 武汉华中数控股份有限公司
申请人地址 湖北省武汉市东湖新技术开发区庙山小区华中科技大学科技园
专利法律状态
  • 2020-12-18
    授权
    状态信息
    授权
摘要
1.本外观设计产品的名称:黑体。2.本外观设计产品的用途:用于红外测温设备的装置,作为参考温度点,保证红外测温设备的测量准确性。3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图。