电离层延迟获取方法和装置

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专利状态

电离层延迟获取方法和装置

有效

专利申请进度

申请

2014-01-21

申请公布

2014-04-30

授权

2016-07-06

预估到期

2034-01-21

专利基础信息

申请号	CN201410028506.3	申请日	2014-01-21
申请公布号	CN103760573A	申请公布日	2014-04-30
授权公布号	CN103760573B	授权公告日	2016-07-06
分类号	G01S19/07
分类	测量；测试;
申请人名称	北京北斗星通导航技术股份有限公司
申请人地址	北京市海淀区丰贤东路7号北斗星通大厦南楼二层

专利法律状态

2016-07-06

授权

状态信息

授权
2014-06-04

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01S19/07；申请日:20140121
2014-04-30

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供了一种电离层延迟获取方法和装置。涉及导航领域；解决了接收机的定位精度较差的问题。该方法包括：获取穿刺点的位置；获取所述穿刺点位置对应的格网电离层参数；根据所述穿刺点的位置和对应的格网电离层参数，确定所述穿刺点的垂直电离层延迟。本发明提供的技术方案适用于依据卫星信号，实现计算基于格网的电离层延迟。

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