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专利状态
测试图表的校正方法
有效
专利申请进度
申请
2006-09-01
申请公布
2008-03-05
授权
2010-01-20
预估到期
2026-09-01
专利基础信息
申请号 CN200610030734.X 申请日 2006-09-01
申请公布号 CN101135603A 申请公布日 2008-03-05
授权公布号 CN100582714C 授权公告日 2010-01-20
分类号 G01M11/00;G01M11/02;G01D3/02;H04N1/04
分类 测量;测试;
申请人名称 虹光精密工业(苏州)有限公司
申请人地址 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹西路1号
专利法律状态
  • 2010-01-20
    授权
    状态信息
    授权
  • 2008-04-30
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效
  • 2008-03-05
    公布
    状态信息
    公布
摘要
一种测试图表的校正方法。首先,利用参考扫描仪扫描参考图表以得到多个参考光学密度值。参考图表包含多个参考区块,其具有对应于上述参考光学密度值的不同光学密度。然后,利用参考扫描仪扫描待测图表以得到多个第一光学密度值。待测图表包含多个待测区块,其具有对应于上述第一光学密度值的不同光学密度且对应于上述参考区块。接着,利用将上述第一光学密度值分别转换成上述参考光学密度值的运算方式,得到补偿函数。还包括,利用待测扫描仪扫描所述待测图表以得到多个第二光学密度值;依据所述补偿函数将所述第二光学密度值转换成多个第三光学密度值;及依据所述第三光学密度值来校正所述待测扫描仪的光学特性。