LCM半成品的抗静电极限耐压测试方法

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专利状态

LCM半成品的抗静电极限耐压测试方法

有效

专利申请进度

申请

2008-05-30

申请公布

2008-10-15

授权

1970-01-01

预估到期

2028-05-30

专利基础信息

申请号	CN200810110039.3	申请日	2008-05-30
申请公布号	CN101285948A	申请公布日	2008-10-15
授权公布号	CN101285948B	授权公告日	1970-01-01
分类号	G02F1/13;G01R31/12
分类	光学;
申请人名称	华映科技（集团）股份有限公司
申请人地址	福建省福州市马尾区儒江西路6号楼1#第三、四层

专利法律状态

2018-09-18

专利申请权、专利权的转移

状态信息

专利权的转移；IPC(主分类):G02F1/13；专利号:ZL2008101100393；登记生效日:20180830；变更事项:专利权人；变更前权利人:福建华映显示科技有限公司；变更后权利人:华映科技(集团)股份有限公司；变更事项:地址；变更前权利人:350015 福建省福州市马尾区科技园区77号地；变更后权利人:350000 福建省福州市马尾区儒江西路6号楼1#第三、四层
2010-04-21

发明专利权授予

状态信息

授权
2008-12-10

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效
2008-10-15

发明专利申请公布

状态信息

公布

摘要

本发明涉及对LCM(液晶显示模组)半成品的极限抗静电能力的测试方法。包括以下步骤：步骤一：待测样品准备；步骤二：静电模拟放电发生器设定；步骤三：待测样品接地准备；步骤四：起动静电枪放电开关，对测试孔逐个进行测试。步骤五：点灯确认，将接地线取下后，测试样品在点灯机台上点灯确认是否有静电击伤现象。若未出现静电不良，则需提高放电电压来验证，重复步骤四，直到出现有ESD(静电击伤)不良现象为止；若出现静电不良，则需降低放电电压来验证。本发明可以提供验证新产品或已投产的LCM半成品的抗静电能力；也可以对比出不同厂商材料的抗静电能力水平。

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