一种自动化侦测PCIE设备功耗的测试设备

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专利状态

一种自动化侦测PCIE设备功耗的测试设备

失效

专利申请进度

申请

2013-10-28

申请公布

2014-01-22

授权

2015-12-09

预估到期

2033-10-28

专利基础信息

申请号	CN201310516763.7	申请日	2013-10-28
申请公布号	CN103529285A	申请公布日	2014-01-22
授权公布号	CN103529285B	授权公告日	2015-12-09
分类号	G01R21/00
分类	测量；测试;
申请人名称	深圳市杰和科技发展有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区高新技术产业园北区清华信息港研发楼A1层101、A栋2层

专利法律状态

2023-11-03

专利权的终止

状态信息

未缴年费专利权终止；IPC(主分类):G01R 21/00；专利号:ZL2013105167637；申请日:20131028；授权公告日:20151209；终止日期:
2015-12-09

授权

状态信息

授权
2014-02-26

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R21/00；申请日:20131028
2014-01-22

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种自动化侦测PCIE设备功耗的测试设备，包括系统供电模块、功耗侦测模块、单片机处理模块以及显示模块，所述系统供电模块分别为功耗侦测模块、单片机处理模块以及显示模块提供电源；所述功耗侦测模块的信号输入端连接主板PCIE接口，所述功耗侦测模块的信号输出端与单片机处理模块的信号输入端连接，单片机处理模块的信号输出端与显示模块的信号输入端连接。不仅能准确地、有效地测试PCIE设备的功耗，侦测效率更高，而且大大简化了设计，降低了验证成本。

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